G150M型平面干涉儀:專為計量級測試的需求設計，適用于計量機構檢定和校準光學平晶。其集高性能、長壽命氦氖激光器，1-6.7倍圖像放大功能，高精度的成像系統和圖像采集系統，精密平面標準鏡等一系列高精技術，通過優化光學系統和機械系統結構，實現高精密平面光學元件的測量。選配靜態干涉條紋分析軟件，實現數字化測量。
G150S為G150M:的簡化版本，適合光學車間的現場檢驗。
主要用途：平面類光學元件（包括玻璃、金屬、陶瓷等）表面面形、光學平行度和材料均勻性的測試；準直系統波前質量的測試。
儀器規格參數表
儀器特點
| 產品型號 | G150M | G150S |
| 有效通光口徑 | 152.4mm（6英寸） | |
| 測量方式 | 菲索干涉原理 | |
| 光源 | 氦氖激光（632.8nm） | 半導體激光器（635nm） |
| 連續變焦倍數 | 1-6.7倍 | 固定倍率 |
| 光路切換 | 對準（十字叉絲）與測試（干涉場）模式電控切換 | |
| 顯示方式 | 計算機或獨立監視器實時顯示 | 監視器實時顯示 |
| 平面透過標準鏡 | PV：優于λ/20，可定制更高精度標準鏡 | |
| 平面反射標準鏡 | 標配 | 選配 |
| 衰減過濾片 | 標配 | 選配 |
| 儀器尺寸(長X寬X高) | 500X500X1070mm | |
| 儀器重量 | 80KG | |
| 電源 | AC100-240V 50/60Hz | |
| （附注：更大口徑平面干涉儀可依據客戶需求定制） | ||
儀器特點
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◇ 精度高：標準鏡精度高，且材料經過精密退火處理，穩定可靠；
◇ 調整方便：可通過切換開關選擇對準與干涉場兩種顯示模式，方便調整；
◇ 條紋真實：優良的光學設計，精密的系統裝保證得到清晰、準確、真實的干涉條紋；
◇ 性能優良：儀器具備良好的隔振性能，適合光學加工現場使用；
◇ 配件豐富：標配密封罩，可將測試腔與外界氣流隔離，降低測試過程中氣流擾動，提高判斷的準確性。配合衰減過濾片，可以測量鍍高反膜元件。 |
注：聯系我時，請說是在“傲立機床網”上看到的，謝謝！
