國產平面干涉儀150MM

G150M型平面干涉儀:專為計量級測試的需求設計，適用于計量機構檢定和校準光學平晶。其集高性能、長壽命氦氖激光器，1-6.7倍圖像放大功能，高精度的成像系統和圖像采集系統，精密平面標準鏡等一系列高精技術，通過優化光學系統和機械系統結構，實現高精密平面光學元件的測量。選配靜態干涉條紋分析軟件，實現數字化測量。G150S為G150M:的簡化版本，適合光學車間的現場檢驗。主要用途：平面類光學元件（包括玻璃、金屬、陶瓷等）表面面形、光學平行度和材料均勻性的測試；準直系統波前質量的測試。儀器規格參數表產品型號G150MG150S有效通光口徑152.4mm（6英寸）測量方式菲索干涉原理光源氦氖激光（632.8nm）半導體激光器（635nm）連續變焦倍數1-6.7倍固定倍率光路切換對準（十字叉絲）與測試（干涉場）模式電控切換顯示方式計算機或獨立監視器實時顯示監視器實時顯示平面透過標準鏡PV：優于λ/20，可定制更高精度標準鏡平面反射標準鏡標配選配衰減過濾片標配選配。 詳細介紹>>